泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic 3+介紹

 泰勒霍普森粗糙度儀Surtronic 3+介紹

泰勒霍普森粗糙度儀參數(shù)                                                                                                                                      

技術(shù)指標(biāo)：
測量范圍	±150μm	分辨率	0.01μm
測量行程（大值）	25.4mm	測量行程(小值)	0.25mm
傳感器類型	可選換	測量速度	1mm/S
測針	112/1502標(biāo)準(zhǔn)測針
	測尖半徑5μm
	112/1053替換標(biāo)準(zhǔn)測針
	測尖半徑10μm
取樣長度	0.25mm, 0.8mm, 2.5mm, 8mm	參數(shù)精度	2%讀數(shù)精度+LSDμm
測量參數(shù)	Ra, Rq, Rz, Ry, Sm, Rt,	主機電源	電池或接線電源
選用參數(shù)	Pc(用于代替Rq)	WINDOWS界面圖形分析	Waviness+Roughness
	Tp%(可用于代替Rq)		曲線分析圖
數(shù)據(jù)處理器參數(shù)	Ra,Rv,Rq,Rp,Ry,Rz,RzJISIr,
	Sm,RsK,Rku,S,Pc,HSC,Rk,
	Rpk,Rvk,Mr1,Mr2,A1,A2,
	Rpk,Rvk,R,Rmax,Ar,Pt,Kr,
	tp5%,Htp,Vo
微機處理參數(shù)	粗糙度參數(shù)
	Ra,Rq,Rt,Rp,Rv,Rku,Rsm,RzRTp,RHTp,……R3z.
	波紋度參數(shù)
	Wa,Wq,Wt,Wp,Wv,Wku,Wsk,Wsm,……W3z
	示濾波參數(shù)
	Pa,Pq,Pv,Pt,…Ppc
	RK參數(shù)
	Rk,RpK,Rvk,……A1,Rvk
	R+W參數(shù)
	R,Ar,Pt…HTrc
主機尺寸	130*80*65mm	主機重量	450g
數(shù)據(jù)處理機	185*140*50mm

 

 無錫駿展儀器有限責(zé)任公司起源于美國,英國,德國和其他地區(qū)的合作伙伴,與全系列的產(chǎn)品資源和服務(wù),光學(xué)儀器、測量儀器、無損檢測、實驗儀器、分析儀器、測量工具測量工具和其他類型的測試設(shè)備,努力為客戶解決快速分析的測量技術(shù)挑戰(zhàn),聯(lián)合提供定制化精密測量和性能分析系統(tǒng)解決方案，有效推動企業(yè)實現(xiàn)既定目標(biāo)。