菲希爾X射線測(cè)厚儀X-RAY

菲希爾X射線測(cè)厚儀在無損無接觸的涂層厚度測(cè)量和材料分析領(lǐng)域，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線儀器是理想的選擇。自1983年以來，我們的X射線儀器已成為幾乎所有主要行業(yè)質(zhì)量測(cè)試的一個(gè)組成部分。我們的儀器以其精確性、準(zhǔn)確性和耐用性而聞名。同時(shí)，F(xiàn)ISCHERSCOPE X射線的設(shè)計(jì)易于使用，并在測(cè)量的各個(gè)方面為您提供支持。 這使您可以專注于手頭上的質(zhì)量工作，而不是測(cè)量?jī)x器上。

菲希爾X射線測(cè)厚儀我們的X射線儀器配有專用的FischerWinFTM軟件，旨在規(guī)范測(cè)量過程。這包括控制X射線、實(shí)現(xiàn)測(cè)量的可追溯性、生成個(gè)性化測(cè)量報(bào)告以及與內(nèi)部網(wǎng)絡(luò)交互。

菲希爾X射線測(cè)厚儀我們種類齊全的X射線設(shè)計(jì)用于高可靠性地測(cè)量不同的應(yīng)用。世界電子、電鍍、汽車、黃金和珠寶等領(lǐng)域的公司以及更多的公司都依賴于FISCHERSCOPE X射線儀器進(jìn)行質(zhì)量控制。現(xiàn)在就來看看我們的X光儀器并找出原因吧！